Lewandowski, Arkadiusz ; Wiatr, Wojciech
Temat i słowa kluczowe:calibration ; monolithic microwave integrated circuit (MMIC) ; error analysis ; on-wafer probe ; numerical electromagnetic analysis ; multimode propagation ; conductor-backed coplanar waveguide (CB-CPW) ; de-embedding ; on-wafer measurements ; microstrip-like mode
Opis: Wydawca:Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy, Warszawa
Data wydania: Typ zasobu: Format: DOI: ISSN: eISSN: Źródło:Journal of Telecommunications and Information Technology
Język: Prawa: