Iniewski, Krzysztof ; Voinigescu, Sorin P. ; Syrzycki, Marek
Temat i słowa kluczowe:SiGe ; CMOS ; cut-o frequency ; WAN ; SAN ; LAN ; InP ; MAN ; networking ; OEO conversion ; manufacturability
Opis: Wydawca:Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy, Warszawa
Data wydania: Typ zasobu: Format: DOI: ISSN: eISSN: Źródło:Journal of Telecommunications and Information Technology
Język: Prawa: