Wiatr, Wojciech ; Schmidt-Szałowski, Marek
Temat i słowa kluczowe:uncertainty ; microwaves ; error propagation ; measurement system ; noise metrology ; sensitivity analysis ; four noise parameters
Opis: Wydawca:Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy, Warszawa
Data wydania: Typ zasobu: Format: Identyfikator zasobu:ISSN 1509-4553, on-line: ISSN 1899-8852
DOI: ISSN: eISSN: Źródło:Journal of Telecommunications and Information Technology
Język: Prawa: