Wyszukiwanie zaawansowane ?

Obiekt

Pobierz

Tytuł: Reliability and low-frequency noise measurements of InGaAsP MQW buried-heterostructure lasers, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2003, nr 1

Autor:

Letal, Gregory ; Šermukšnis, Emilis ; Matukas, Jonas ; Pralgauskaite, Sandra ; Smetona, Saulius ; Mallard, Robert ; Palenskis, Vilius ; Vyšniauskas, Juozas

Data wydania:

2003, nr 1

Typ zasobu:

artykuł

Opis:

A laser diode reliability test based on the measurements of the low-frequency optical and electrical noise, and their correlation factor changes during short-time ageing is presented. The noise characteristics reveal obvious differences between the stable and unreliable lasers operated near the threshold region. An excessive Lorentzian type noise with negative correlation factor at the threshold could be one of the criteria for identifying unreliable lasers. The behavior of unreliable lasers during ageing could be explained by migration of point recombination centres at the interface of an active layer, and by the formation of defect clusters.

Wydawca:

Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy, Warszawa

Format:

application/pdf

Identyfikator zasobu:

oai:bc.itl.waw.pl:566 ; ISSN 1509-4553, on-line: ISSN 1899-8852

DOI:

10.26636/jtit.2003.1.158

ISSN:

1509-4553

eISSN:

1899-8852

Źródło:

Journal of Telecommunications and Information Technology

Język:

ang

Prawa:

Biblioteka Naukowa Instytutu Łączności

Temat i słowa kluczowe:

low-frequency noise reliability correlation factor laser diode electrical noise optical noise

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

25 lut 2026

Data dodania obiektu:

16 mar 2010

Liczba wyświetleń treści obiektu:

271

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://ribes-54.man.poznan.pl/publication/632

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

Nazwa wydania Data
Pralgauskaite, Sandra; Matukas, Jonas; Palenskis, Vilius; Letal, Gregory, Reliability and low-frequency noise measurements of InGaAsP MQW buried-heterostructure lasers, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2003, nr 1 25 lut 2026

Obiekty Podobne
Low frequency noise in advanced Si bulk and SOI MOSFETs, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1

Balestra, Francis Ghibaudo, Gérard Jomaah, Jalal

2005, nr 1
artykuł
Challenges for 10 nm MOSFET process integration, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 2

Hellström, Per-Erik Haartman von, Martin Östling, Mikael Zhang, Zhen Hallstedt, Julius Zhang, Shili Malm, Bengt Gunnar

2007, nr 2
artykuł
Suitable Spreading Sequences for Asynchronous MC-CDMA Systems, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2018, nr 3

Djebbari, Ali Addad, Mouad

2018, nr 3
artykuł
A new algorithm for calculating the most reliable pair of disjoint paths in a network, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2006, nr 4

Craveirinha, Jose Violante, Artur Gomes, Teresa

2006, nr 4
artykuł
All-optical intensity noise suppression for solid-state and semiconductor lasers, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 2

Berceli, Tibor Csörnyei, Márk Marozsák, Tamás

2005, nr 2
artykuł
Reliability of deep submicron MOSFETs, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2001, nr 1

Balestra, Francis

2001, nr 1
artykuł
Evaluation of Reliability of Mobile ICT Services, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2021, nr 1

Kowalewski, Marian Kobus, Ryszard Sędek, Tomasz

2021, nr 1
artykuł
Performance Enhancement of Coherent Optical OFDM System Using LMS Algorithm, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2020, nr 4

Bharti, Manisha

2020, nr 1
artykuł
Więcej
×

Cytowanie

Styl cytowania:

Dane kontaktowe

Adres

Instytut Łączności – Państwowy Instytut Badawczy ul. Szachowa 1 04-894 Warszawa

Telefon

(+48) 5128 696

E-Mail

biblioteka@il-pib.pl

Odwiedź nas!

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji