Filters
  • Collections
  • Group objects
  • File type
  • Creator
  • Subject and Keywords
  • Date
  • Resource Type
  • Language
Advanced search ?

Search for: [Subject and Keywords = MOS system] OR [Subject and Keywords = barrier height] OR [Subject and Keywords = effective contact potential difference] OR [Title = Comparison of the barrier height measurements by the Powell method with the ΦMS measurement results, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1] OR [Creator = Przewłocki, Henryk M.] OR [Creator = Rzodkiewicz, Witold] OR [Creator = Piskorski, Krzysztof] OR [Creator = Kudła, Andrzej]

Number of results: 8

Items per page:
add all to bibliography
Investigation of barrier height distributions over the gate area of Al-SiO2-Si structures, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 3

Przewłocki, Henryk M. Piskorski, Krzysztof

2007, nr 3
artykuł
Effects of stress annealing on the electrical and the optical properties of MOS devices, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1

Przewłocki, Henryk M. Rzodkiewicz, Witold Kudła, Andrzej Sawicki, Zbigniew

2005, nr 1
artykuł
LPT and SLPT Measurement Methods of Flat-Band Voltage (VFB) in MOS Devices, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2009, nr 4

Przewłocki, Henryk M. Piskorski, Krzysztof

2009, nr 4
artykuł
Variability of the local ΦMS values over the gate area of MOS devices, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1

Przewłocki, Henryk M. Massoud, Hisham Z. Kudła, Andrzej Brzezińska, Danuta

2005, nr 1
artykuł
Ultra-shallow nitrogen plasma implantation for ultra-thin silicon oxynitride (SiOxNy) layer formation, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1

Jakubowski, Andrzej Beck, Romuald B. Bieniek, Tomasz Kudła, Andrzej

2005, nr 1
artykuł
Photoelectric measurements of the local values of the effective contact potential difference in the MOS structure, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1

Kudła, Andrzej Brzezińska, Danuta Przewłocki, Henryk Borowicz, Lech

2005, nr 1
artykuł
Ellipsometric spectroscopy studies of compaction and decompaction of Si-SiO2 systems, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 3

Rzodkiewicz, Witold Panas, Andrzej

2007, nr 3
artykuł
Energy concepts involved in MOS characterization, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 2

Engström, Olof Gutt, Tomasz Przewłocki, Henryk M.

2007, nr 2
artykuł

Contact details

Address

Instytut Łączności – Państwowy Instytut Badawczy ul. Szachowa 1 04-894 Warszawa

Phone

(+48) 5128 696

E-Mail

biblioteka@il-pib.pl

Visit us!

This page uses 'cookies'. More information