TSSOI as an efficient tool for diagnostics of SOI technology in Institute of Electron Technology, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1

Nazwa wydania	Data
Barański, Mateusz, TSSOI as an efficient tool for diagnostics of SOI technology in Institute of Electron Technology, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1	25 lut 2026

Obiekty Podobne

A versatile tool for extraction of MOSFETs parameters, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1

Tomaszewski, Daniel Grabiec, Piotr Marczewski, Jacek Domański, Krzysztof Kucharski, Krzysztof Kociubiński, Andrzej

2005, nr 1

artykuł

Si-Based Electrodes for Potentiometric Measurements of Aqueous Solutions, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2009, nr 4

Tomaszewski, Daniel Jaroszewicz, Bohdan Grabiec, Piotr Zaborowski, Michał

2009, nr 4

artykuł

Electrical characterization of ISFETs, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2007, nr 3

Tomaszewski, Daniel Jaroszewicz, Bohdan Pijanowska, Dorota G. Grabiec, Piotr Zaborowski, Michał Yang, Chia-Ming

2007, nr 3

artykuł

Piezoresistive sensors for atomic force microscopy – numerical simulations by means of virtual wafer fab, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2001, nr 1

Jakubowski, Andrzej Tomaszewski, Daniel Grabiec, Piotr Rangelow, Ivo W. Domański, Krzysztof Barth, Wolfgang Dębski, Tomasz

2001, nr 1

artykuł

Multi-Domain Modeling and Simulations of the Heterogeneous Systems, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2010, nr 1

Bieniek, Tomasz Tomaszewski, Daniel Grabiec, Piotr Janus, Paweł Kociubiński, Andrzej Malinowski, Arkadiusz Ekwińska, Magdalena Janczyk, Grzegorz Szynka, Jerzy

2010, nr 1

artykuł

Semi-automatic test system for characterization of ASIC/MPWS, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1

Tomaszewski, Daniel Kociubiński, Andrzej Zając, Jerzy Wójcik, Janusz

2005, nr 1

artykuł

A model of partially-depleted SOI MOSFETs in the subthreshold range, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2001, nr 1

Jakubowski, Andrzej Tomaszewski, Daniel Łukasiak, Lidia Domański, Krzysztof

2001, nr 1

artykuł

Adsorption properties of porous silicon, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2001, nr 1

Beck, Romuald B. Grabiec, Piotr Gotszalk, Teodor Rangelow, Ivo W. Domański, Krzysztof Dębski, Tomasz

2001, nr 1

artykuł

Więcej

Styl cytowania:

Chicago

Obiekt

Tytuł: TSSOI as an efficient tool for diagnostics of SOI technology in Institute of Electron Technology, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1

Autor:

Data wydania:

Typ zasobu:

Opis:

Wydawca:

Format:

Identyfikator zasobu:

DOI:

ISSN:

eISSN:

Źródło:

Język:

Prawa:

Temat i słowa kluczowe:

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

Data dodania obiektu:

Liczba wyświetleń treści obiektu:

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

Wyświetl opis w formacie RDF:

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

Obiekty Podobne

podobne w FBC

Cytowanie

Dane kontaktowe

Adres

Telefon

E-Mail

Odwiedź nas!

Mapa strony

Strona główna

Kolekcje

Indeksy

O Projekcie

Historia przeglądania

Instytut Łączności – Państwowy Instytut Badawczy udostępnia 2 325 obiektów cyfrowych

Obiekt

Tytuł: TSSOI as an efficient tool for diagnostics of SOI technology in Institute of Electron Technology, Journal of Telecommunications and Information Technology, 2005, nr 1

Autor:

Data wydania:

Typ zasobu:

Opis:

Wydawca:

Format:

Identyfikator zasobu:

DOI:

ISSN:

eISSN:

Źródło:

Język:

Prawa:

Temat i słowa kluczowe:

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

Data dodania obiektu:

Liczba wyświetleń treści obiektu:

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

Wyświetl opis w formacie RDF:

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

Obiekty Podobne

podobne w FBC

Cytowanie

Dane kontaktowe

Adres

Telefon

E-Mail

Odwiedź nas!